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    sem的成像原理(sem成像方式)

    發(fā)布時(shí)間:2023-04-13 23:58:28     稿源: 創(chuàng)意嶺    閱讀: 117        

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    本文目錄:

    sem的成像原理(sem成像方式)

    一、一般掃描電鏡的樣品為什么要進(jìn)行導(dǎo)電處理?

    1.測樣品導(dǎo)電處理,可以避免被測樣品表面形成電荷累積而影響圖像效果。

    2.對樣品進(jìn)行導(dǎo)電處理是要把多余的電荷導(dǎo)入大地,從而避免多余電荷的累積,對儀器造成損害。

    二、求大神幫解說一下什么是SEM XRD EDS 分析方法和原理 本人零基礎(chǔ) 大體了解一下

    SEM是掃描電子顯微鏡,最高可放大至20萬倍左右,用二次電子成像的原理來觀察某種物質(zhì)的微觀形貌。EDS是能譜儀,是每種元素對應(yīng)的電子能不同,來鑒別元素,通常是和SEM結(jié)合使用,也就是說在SEM上安裝EDS附件,在觀看形貌時(shí),選擇一定區(qū)域用EDS打能譜,也就知道了該區(qū)域的元素組成。XRD是X射線衍射儀,其原理是高壓下,陰極發(fā)出的電子形成高能電子束,轟擊陽極靶材(通常是Cu),靶材的內(nèi)部電子能量升高,被激發(fā)出來,當(dāng)它回到基態(tài)的過程中,多余的能量以X射線、俄歇電子等形式釋放出來。XRD收集的是其中的X射線,X射線掃到樣品上,會根據(jù)布拉格方程產(chǎn)生衍射角,衍射峰。每種物質(zhì)(不同樣品)的衍射峰不同,因此通常用來鑒別物相,也會根據(jù)峰面積算半定量。

    三、掃描電鏡sem的主要原理是什么?測試過程需要重點(diǎn)注意哪些操作

    電鏡的原理是:

    電子槍

    發(fā)出

    電子束

    打到樣品表面,激發(fā)出

    二次電子

    、

    背散射電子

    、X-ray等特征信號,經(jīng)收集轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號,得到相應(yīng)的形貌或成分信息。

    測試注意事項(xiàng):

    1、新人找別人幫忙測試時(shí),

    明確自己的測試內(nèi)容,如何樣品前處理,測試時(shí)間,然后跟測試相關(guān)人員聯(lián)系確定能否滿足你的測試需求

    2、新人自己操作測試時(shí),

    明確自己的測試內(nèi)容,如何樣品前處理,測試時(shí)間,

    測試時(shí)注意樣品干燥潔凈,操作時(shí)樣品和樣品臺避免撞到探頭

    四、xrd sem tem原理是

    XRD可以做定性,定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以測定晶格參數(shù),可以測定結(jié)構(gòu)方向、含量,可以測定材料的內(nèi)應(yīng)力,材料晶體的大小等等。一般主要是用來分析合金里面的相成分和含量。

    樣品制備:

    通常定量分析的樣品細(xì)度應(yīng)在1微米左右,即應(yīng)過320目篩。

    SEM是利用電子和物質(zhì)的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息,如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài),即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng),其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。

    以上就是關(guān)于sem的成像原理相關(guān)問題的回答。希望能幫到你,如有更多相關(guān)問題,您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢,客服也會為您講解更多精彩的知識和內(nèi)容。


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